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产品信息
B2S单晶直探头
B2S保护膜探头
B2S
以上需要详细资料请致电我司
深圳华清仪器仪表有限公司
李登彪 18675597965
0755-28199550 QQ 2234837666
B2S单晶直探头
B2S保护膜探头
B2S
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深圳华清仪器仪表有限公司
李登彪
QQ 2234837666
接触法探头
接触法直探头, 保护膜,带保护膜探头
应用
• 一般检测目的, 简单形状的大零件
• 锻件, 铸件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 机器零件, 壳体
• 高温检测时带延迟块
性能特征
• 欧款有可更换膜:
- 在不平整和曲面上增进耦合
- 延长探头寿命
- 适于DGS缺陷评定
- 可连接高温延迟块
- Lemo (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选
• 美款有三种类型的保护:
- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.
- 耐磨帽定期更换可无期限延长探头寿命
- 高温延迟块可以实现 00°F ( 00°C)表面检测.
- BNC 连接端口, 顶装或侧装
接触法探头
接触探头主要用于手动检测。应用接触法探伤时,需要在测量区域或多个测量区域涂上薄薄的一层耦合剂,然后直接将探头 放置在被测物体表面进行检测。
耦合剂(用于藕合探头和被测物,如油,甘油等)添加在探头 和被测物体之间的空气间隙中,使声波传输进入被测物体。接触法探伤将探头分别放置在各检测点逐点检测,或者在被测 物体表面连续移动探头来完成的。
大 表 面 要 以 某 种 网 状 模 式 进 行 扫 描 检 测 , 网 格 的 宽 度 取 决 于缺陷的程度和检测标准。
如果不能使用耦合剂,那么就要在某些探头上使用耦合帽,它由软塑料制成。
有 两 种 类 型 的 探 头 可 供 检 测 选 用 : 单 探 头 ( 图 1 ) 和 双 晶 探头 ( 图 2 ) 。 两 种 探 头 都 是 在 垂 直 于 被 测 物 体 表 面 的 方 向 上
发 射 和 接 收 脉 冲 ( 直 探 头 ) , 或 者 是 在 与 被 测 物 体 表 面 成 一 定角度的方向上发射和接收脉冲(斜探头,图3)。
接触式探头的选择标准
对于选用探头没有特别规定时,以下为的探头选用标准供
参考:
首先,要决定选用单探头还是TR探头。如果要探测近表面的缺 陷,那么TR探头更合适些。
其次,就是根据预期的缺陷位置决定使用直探头还是斜探头。
根据声波的镜面反射原理,声束应该垂直入射到反射面。当频
率增加时,这一点必须要特别加以注意。
第三,考虑检测分辨率(声束宽度)。 后,根据表中给出的数据和给出的探头类别选择,可以依据尺寸、频率、波谱和工作量程等选择合适的探头.
带可更换保护膜的直探头
B0.5SL
形状与粗晶探头 K0.5S和K1S相同
B2S
设计上与K..SC探头相同
MB4S
设计上与MK..S探头相同
B2S-0
形状与K0.5SM和K1SM探头相同
主要特性:
·单晶探头实现声波的发射和接收
·纵波垂直传输
·即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上,由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性
·如果及时地更换保护膜,则探头的磨损可以达到小
·特殊的粗晶探头,在测试高衰减材料时,利用短脉冲可以达到高信噪比
·由于采用印模压铸成型,因此实际形状具有很高的稳定性
主要应用领域
通常:用于容器或者平行于表面的缺陷探测和评估。可更换的
抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或轻微弯曲的表面也达到 好耦合,并防止探头磨损。
B..SL:
用于检测中等尺寸和大尺寸物体,它们由于声程长(例如大的
锻 件 或 球 墨 铸 铁 ) 而 导 致 声 波 衰 减 严 重 。 它 们 也 适 用 于 检 测
具 有 强 声 波 吸 收 特 性 的 塑 料 材 料 ( 例 如 尼 龙 、 特 氟 龙 、 聚 丙 烯),为增加灵敏度和分辨率,可以将保护膜去掉。
K..S,K..SM,K..SC和MK..S(粗晶探头):
用于检测粗晶粒中等尺寸和大尺寸物体,这种材料的物体由于
声波的散射作用(例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合
成材料等制成的物体)而使声波衰减严重。
它们也可以用于检测材料的物理特性(例如建筑材料、岩芯和 半导体材料的特性)。
B..S和MB..S: 这类探头性能参数误差小,对目前大多数的检测任务(例如平 板物、条状物和方形轮廓物体的测试,以及容器和螺钉、螺孔 和外壳等的测试),可以达到高的精度要求。对于由多种材 料(例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料)构成的 形状简单的部件检测也可以达到高精度要求。
带可更换保护膜的直探头
特性:在粗糙表面上具有稳定的耦合性能
带保护膜探头—欧洲规格
探头型号规格
类型 |
D [mm] |
f [MHz] |
AB [mm] |
N [mm] |
EB [mm] |
备注 |
|
||||||
|
||||||
K0.5S |
34 |
0.5 |
100-250 |
23 |
10 |
|
K1S |
34 |
1 |
50-1350 |
46 |
6 |
高阻抗粗晶粒材料 检测 |
K0.5SM |
28 |
0.5 |
80-145 |
15 |
8 |
|
K1SM |
28 |
1 |
40-780 |
31 |
6 |
|
|
||||||
K1SC |
24 |
1 |
35-1200 |
23 |
6 |
|
K2SC |
24 |
2 |
18-3000 |
45 |
3 |
粗晶粒材料检测,特 别适合于应用ZIP技术 检测塑料材料 |
MK1S |
10 |
1 |
30-350 |
4 |
6 |
|
MK2S |
10 |
2 |
15-700 |
8 |
3 |
|
MK4S |
10 |
4 |
10-1300 |
16 |
2 |
|
探头型号 |
尺寸 |
英寸 |
频率 |
尺寸 |
英寸 |
B0.5SL |
34 |
|
0.5 |
|
|
B1SL |
34 |
|
1 |
|
|
B2SL |
30 |
|
2 |
|
|
B1S |
24 |
0.94 |
1 |
23 |
0.9 |
B1S-EN |
24 |
0.94 |
1 |
23 |
0.9 |
B1S-O |
24 |
0.94 |
1 |
23 |
0.9 |
B2S |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B2S-EN |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B2S-O |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B2S-O-EN |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B4S |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B4S-EN |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B4S-O |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B4S-O-EN |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B5S |
24 |
0.94 |
5 |
110 |
4.3 |
|
|||||
MB2S |
10 |
0.39 |
2 |
8 |
0.3 |
MB2S-EN |
10 |
0.39 |
2 |
8 |
0.3 |
MB2S-O |
10 |
0.39 |
2 |
8 |
0.3 |
MB4S |
10 |
0.39 |
4 |
16 |
0.6 |
MB4S-EN |
10 |
0.39 |
4 |
16 |
0.6 |
MB4S-O |
10 |
0.39 |
4 |
16 |
0.6 |
MB5S |
10 |
0.39 |
5 |
20 |
0.8 |
MB5S-O |
10 |
0.39 |
5 |
20 |
0.8 |
可定制特殊规格探头
附件
描述 |
类型 |
备注 |
保护膜(1套=10片) |
ES45 |
用于B...S |
保护膜(1套=10片) |
ES24 |
用于MB...S |
保护膜(1套=10片) |
ES57 |
|
保护膜(1套=100片) |
ES12 |
用于点焊探头 |
保护膜(1套=100片) |
ES14 |
用于点焊探头 |
电缆线 |
PKLL2 |
用于B...S |
电缆线 |
MPKL2 |
用于MB...S |