接触法探头
接触法直探头, 保护膜，带保护膜探头
应用
• 一般检测目的, 简单形状的大零件
• 锻件, 铸件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 机器零件, 壳体
• 高温检测时带延迟块
性能特征
• 欧款有可更换膜:
- 在不平整和曲面上增进耦合
- 延长探头寿命
- 适于DGS缺陷评定
- 可连接高温延迟块
- Lemo (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选
• 美款有三种类型的保护:
- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.
- 耐磨帽定期更换可无期限延长探头寿命
- 高温延迟块可以实现 00°F ( 00°C)表面检测.
- BNC 连接端口, 顶装或侧装
接触法探头
接触探头主要用于手动检测。应用接触法探伤时，需要在测量区域或多个测量区域涂上薄薄的一层耦合剂，然后直接将探头 放置在被测物体表面进行检测。
耦合剂（用于藕合探头和被测物，如油，甘油等）添加在探头 和被测物体之间的空气间隙中，使声波传输进入被测物体。接触法探伤将探头分别放置在各检测点逐点检测，或者在被测 物体表面连续移动探头来完成的。
大 表 面 要 以 某 种 网 状 模 式 进 行 扫 描 检 测 ， 网 格 的 宽 度 取 决 于缺陷的程度和检测标准。
如果不能使用耦合剂，那么就要在某些探头上使用耦合帽，它由软塑料制成。
有 两 种 类 型 的 探 头 可 供 检 测 选 用 ： 单 探 头 （ 图 1 ） 和 双 晶 探头 （ 图 2 ） 。 两 种 探 头 都 是 在 垂 直 于 被 测 物 体 表 面 的 方 向 上
发 射 和 接 收 脉 冲 （ 直 探 头 ） ， 或 者 是 在 与 被 测 物 体 表 面 成 一 定角度的方向上发射和接收脉冲（斜探头，图3）。
接触式探头的选择标准
对于选用探头没有特别规定时，以下为的探头选用标准供
参考：
首先，要决定选用单探头还是TR探头。如果要探测近表面的缺 陷，那么TR探头更合适些。
其次，就是根据预期的缺陷位置决定使用直探头还是斜探头。
根据声波的镜面反射原理，声束应该垂直入射到反射面。当频
率增加时，这一点必须要特别加以注意。
第三，考虑检测分辨率（声束宽度）。 后，根据表中给出的数据和给出的探头类别选择，可以依据尺寸、频率、波谱和工作量程等选择合适的探头.
带可更换保护膜的直探头
B0.5SL
形状与粗晶探头 K0.5S和K1S相同
B2S
设计上与K..SC探头相同
MB4S
设计上与MK..S探头相同
B2S-0
形状与K0.5SM和K1SM探头相同
主要特性：
·单晶探头实现声波的发射和接收
·纵波垂直传输
·即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上，由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性
·如果及时地更换保护膜，则探头的磨损可以达到小
·特殊的粗晶探头，在测试高衰减材料时，利用短脉冲可以达到高信噪比
·由于采用印模压铸成型，因此实际形状具有很高的稳定性
主要应用领域
通常：用于容器或者平行于表面的缺陷探测和评估。可更换的
抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或轻微弯曲的表面也达到 好耦合，并防止探头磨损。
B..SL：
用于检测中等尺寸和大尺寸物体，它们由于声程长（例如大的
锻 件 或 球 墨 铸 铁 ） 而 导 致 声 波 衰 减 严 重 。 它 们 也 适 用 于 检 测
具 有 强 声 波 吸 收 特 性 的 塑 料 材 料 （ 例 如 尼 龙 、 特 氟 龙 、 聚 丙 烯），为增加灵敏度和分辨率，可以将保护膜去掉。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S（粗晶探头）：
用于检测粗晶粒中等尺寸和大尺寸物体，这种材料的物体由于
声波的散射作用（例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合
成材料等制成的物体）而使声波衰减严重。
它们也可以用于检测材料的物理特性（例如建筑材料、岩芯和 半导体材料的特性）。
B..S和MB..S： 这类探头性能参数误差小，对目前大多数的检测任务（例如平 板物、条状物和方形轮廓物体的测试，以及容器和螺钉、螺孔 和外壳等的测试），可以达到高的精度要求。对于由多种材 料（例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）构成的 形状简单的部件检测也可以达到高精度要求。
带可更换保护膜的直探头
特性：在粗糙表面上具有稳定的耦合性能
带保护膜探头—欧洲规格
