TH2826A型LCR数字电桥
性能特点
■ 国内首台符合LXI标准的LCR表
■ 测试频率20Hz~5MHz,10mHz步进
■ 测试电平10mV~5V 1mV步进
■ 基本准确度0.1%
■ 高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
简要介绍
■ TH2826系列元件测试仪是国内首台符合LXI标准的新一代阻抗测试仪器,其0.1%的基本精度、20Hz~5MHz的频率范围可以满足元件与材料绝大部分低压参数的测量要求,可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。
■ TH2826系列产品高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机,压电器件的频率响应曲线分析等等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。
■ TH2826系列产品以其的性能可以实现商业标准和标准如IEC和MIL标准的各种测试。
广泛的测量对象
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
技术参数
测试参数 | C L RZYXB G D Q θDCR |
测试频率 | TH2826A | 20 Hz~2MHz10mHz步进 |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV~5V±(10%+10mV) |
平 | f>1MHz | 10mV~1V±(20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω 30Ω 50Ω 100Ω |
基本准确度 | 0.1% |
| L | 0.0001 uH ~ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ~ 9.9999F |
| RXZDCR | 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ |
显示范围 | Y B G | 0.0001 nS ~ 99.999 S |
| D | 0.0001 ~ 9.9999 |
| Q | 0.0001 ~ 99999 |
| θ | -179.99°~ 179.99° |
测量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) 100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s 慢速: 5次/s |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准 |
等效方式 | 串联方式 并联方式 |
量程方式 | 自动 保持 |
显示方式 | 直读 Δ Δ% |
触发方式 | 内部 手动 外部 总线 |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ~ +5V ±(10%+10mV) 1mV步进 |
置源 | 电流模式(内阻为50Ω) | -100mA ~ +100mA ±(10%+0.2mA)20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 |
| USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) |
| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) |
接口 | LAN(LXI class C support) |
RS232C |
HANDLER |
GPIB(选件) |