4Z10×10LA60/汕SIUI 4Z10×10LA60纵波斜探头|深圳华清仪器仪表有限公司大量现货,优惠价供应
SIUI向用户提供过500种以上的工业超声探头产品,包括直探头、斜探头、窄脉冲探头、分割式探头、水浸探头、聚焦探头、可变角度探头等多个系列,满足各种探伤应用。除常规型号探头外,各系列均可按客户特殊需求进行定制。
使用高性能的压电复合材料,声纳超声波探伤仪,在提升灵敏度的同时也带来更好的信噪比。在各种粗晶及纤维结构等高衰减比传统压电晶片探头拥有更高的穿透力,超声波探伤仪英文,脉冲宽度更短使得 纵向分辨率更高,模拟式超声波探伤仪,在各种情况下都可以获得比传统探头更高的频带宽度(高情况下可以达到120%以上),相控阵超声波探伤仪,与低声阻抗材料的匹配也更佳,手持式高亮超声波探伤仪,便于与各种楔块材料 及水相匹配。
以此复合材料为基础,全数字智能超声波探伤仪,我们提供各种水浸探头,汕CTS数字超声波探伤仪,延迟块探头,汕,单双晶直探头、斜探头等,济南 超声波探伤仪,在产型号的频率范围覆盖0.5MHz到15MHz,相控阵成像超声波探伤仪,并接受更高频率探头的特殊定制。
SIUI是汕头市超声仪器研究所有限公司的
部位于广东省汕头经济特区的汕头市超声仪器研究所有限公司(SIUI)作为汕头超声仪器研究所改制成立的股份制企业,创建三十多年来,始终致力于人类健康与安全事业的创新发展,坚定不移地专注于医学影像系统及工业检测设备的研发和制造,在各领域取重大突破,稳定快速发展。
,SIUI已成为世界、集医学超声显像诊断系统、医用X射线影像系统、工业检测设备的研发、制造和销售于一体的重点高新技术企业。的技术、的设备、精湛的工艺、的产品、完善的服务,令SIUI赢得了广大业界人士的高度信赖。
作为民族高科技企业的佼佼者,SIUI多年来一直坚持以过销售收入的10%的资金投入技术创新工作,取得多项高科技成果,并实现产品化,使SIUI的产品在国内同行中。
企业改制,是SIUI再次腾飞的开始。SIUI将立足超声,实现在医学影像系统和工业检测设备领域的多元化发展,形成国际化的技术开发中心、资本运作中心、物流中心和本土化制造中心,建成国际化的大型集团公司。
探头名称:横波斜探头
探头规格:2.5Z13×13 K1、2.5Z13×13 K2、2.5Z13×13 K2.5、2.5Z13×13 K3
探头接口:Q9-Q9
超声波探伤仪探头的主要作用:一是将返回来的声波转换成电脉冲;二是控制超声波的传播方向和能量集中的程度,当改变探头入射角或改变超声波的扩散角时,可使声波的主要能量按不同的角度射入介质内部或改变声波的指向性,提高分辨率;三是实现波形转换;四是控制工作频率,适用于不同的工作条件。
斜探头K值与角度的对应关系
编号
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K值
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对应角度
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1
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K1
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对应45度
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2
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K1.5
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对应56.3度
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3
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K2
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对应63.4度
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4
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K2.5
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对应68.2度
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5
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K3
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对应71.6度
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焊缝探伤超声波探头的选择方案
编号
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被测工件厚度
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选择探头和斜率
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选择探头和斜率
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1
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4—5mm
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6×6 K3
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不锈钢:1.25MHz
铸铁:0.5—2.5 MHz
普通钢:5MHz
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2
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6—8mm
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8×8 K3
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3
|
9—10mm
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9×9 K3
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4
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11—12mm
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9×9 K2.5
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5
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13—16 mm
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9×9 K2
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6
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17—25 mm
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13×13 K2
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7
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26—30 mm
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13×13 K2.5
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8
|
31—46 mm
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13×13 K1.5
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9
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47—120 mm
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13×13( K2—K1)
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10
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121—400 mm
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18×18 ( K2—K1)
20×20 ( K2—K1)
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测厚探头
双晶纵波探头,配套超声波测厚仪,用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块,连接到探头线的两个接口为 C5插座。
测厚探头简介:

测厚仪分割式直探头
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2Z12FG-H
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测厚仪分割式直探头
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5Z6FG-HX
|
测厚仪分割式直探头
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5Z8FG-HX
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-HX
|
测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-HC
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-GH
|
测厚仪分割式直探头
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7.5Z6FG-HX
|
测厚仪分割式直探头
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2Z12FG-HL00
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-HJL00
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-GHL00
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测厚仪分割式直探头
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7.5Z6FG-HL00
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测厚探头应用领域:
双晶纵波探头,配套超声波测厚仪,用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块,连接到探头线的两个接口为 C5插座。
测厚探头型号规格:
测厚仪分割式直探头
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2Z12FG-H
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测厚仪分割式直探头
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5Z6FG-HX
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测厚仪分割式直探头
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5Z8FG-HX
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-HX
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-HC
|
测厚仪分割式直探头
|
5Z10FG-GH
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测厚仪分割式直探头
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7.5Z6FG-HX
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测厚仪分割式直探头
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2Z12FG-HL00
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-HJL00
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测厚仪分割式直探头
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5Z10FG-GHL00
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测厚仪分割式直探头
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7.5Z6FG-HL00
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line;color:#333333;background-color:#ffffff;"="" style="white-space: normal; margin: 0px 0px 20px; padding: 0px; border: 0px;">
DZ-1超声波试块 直探头盲区标准试块 NB/T-2015超声波标准试块”参数说明
型号:
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DZ-1
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规格:
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NB/T47013-2015标准
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商标:
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东岳
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包装:
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原装
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名称
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型号
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纵波斜探头(折射角)
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2Z8×12LA45
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纵波斜探头(折射角)
|
2Z8×12LA60
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纵波斜探头(折射角)
|
2Z8×12LA70
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纵波斜探头(折射角)
|
2Z10×10LA45
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纵波斜探头(折射角)
|
2Z10×10LA60
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纵波斜探头(折射角)
|
2Z10×10LA70
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纵波斜探头(折射角)
|
2Z14×14LA45
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纵波斜探头(折射角)
|
2Z14×14LA60
|
纵波斜探头(折射角)
|
2Z14×14LA70
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z8×12LA45
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z8×12LA60
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z8×12LA70
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z10×10LA45
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z10×10LA60
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z10×10LA70
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z14×14LA45
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纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z14×14LA60
|
纵波斜探头(折射角)
|
2.5Z14×14LA70
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纵波斜探头(折射角)
|
4Z8×12LA45
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纵波斜探头(折射角)
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4Z8×12LA60
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纵波斜探头(折射角)
|
4Z8×12LA70
|
纵波斜探头(折射角)
|
4Z10×10LA45
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纵波斜探头(折射角)
|
4Z10×10LA60
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纵波斜探头(折射角)
|
4Z10×10LA70
|
纵波斜探头(折射角)
|
4Z14×14LA45
|
纵波斜探头(折射角)
|
4Z14×14LA60
|
纵波斜探头(折射角)
|
4Z14×14LA70
|
纵波斜探头(折射角)
|
5Z8×12LA45
|
纵波斜探头(折射角)
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5Z8×12LA60
|
纵波斜探头(折射角)
|
5Z8×12LA70
|
纵波斜探头(折射角)
|
5Z10×10LA45
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纵波斜探头(折射角)
|
5Z10×10LA60
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纵波斜探头(折射角)
|
5Z10×10LA70
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纵波斜探头(折射角)
|
5Z14×14LA45
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纵波斜探头(折射角)
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5Z14×14LA60
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纵波斜探头(折射角)
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5Z14×14LA70
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“DZ-1超声波试块 直探头盲区标准试块 NB/T-2015超声波标准试块”详细介绍
DZ-1超声波试块 直探头盲区标准试块 NB/T-2015超声波标准试块, 试块适用于与DB-P试块配合使用测试直探头的盲区。
单晶斜探头
进行斜射探伤用的探头,主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。超声波的发射/接收由压电晶片完成;斜块的作用是实现波型的转换,当入射角(á)在临界角和第二临界角之间时,根据超声波在不同声阻抗界面的折射定律,工件中只有横波的存在;声材料用来吸收晶片背面、斜块四周发散的噪声;外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽等作用;插座为电信号接口,通过探头线连接到仪器。
斜探头的声束与探头表面倾斜,因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。进行斜射探伤用的探头,主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。斜探头折射角的大小通过K 值来标明。在探头的型号上标明检测钢工件时的K 值,K=tg(Θ),即折射角度的正切值。常用的K 有0.8、1.0、1.5、2.0、2.5、3.0 等几种。采用K 值标称探头,缺陷的定位计算比较方便。
单晶斜探头简介:
进行斜射探伤用的探头,主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。
单晶斜探头功能特点:
超声波的发射/接收由压电晶片完成。
斜块的作用是实现波型的转换,当入射角(α)在临界角和第二临界角之间时,根据超声波在不同声阻抗界面的折射定律,工件中只有横波的存在。
吸声材料用来吸收晶片背面、斜块四周发散的噪声。
外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽等作用。
插座为电信号接口,通过探头线连接到仪器。
斜探头折射角的大小通过 K值来标明。
斜探头的声束与探头表面倾斜,因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。
单晶斜探头型号规格:
斜探头(大尺寸晶片
)